帝邦股份有限公司

帝邦股份有限公司成立於民國六十九年，台灣總代理經銷德國具有150多年歷史的品牌SCHMIDT+HAENSCH(S+H)公司之折射計、折射儀、屈折計、屈折度儀、多波長ABBE阿貝屈折度儀、多波長ABBE阿貝自動折射計、旋光度計、多波長旋光度計、糖度計、錘度計和密度計；提供技術支援、操作訓練及維修保養所銷售之儀器。多波長阿貝折射計ATR-L型 •波長範圍:400nm ~ 700nm. Optional 350nm ~ 800nm. •測試範圍:589nm時1.33200 ~ 1.70000折射率(RI) / 0 ~ 100% Brix. •解析度:0.00001折射率(RI) / 0.01 Brix. •精確度:± 0.00004折射率(RI) / ± 0.03 Brix. •溫度控制:內建Peltier固態電子式恆溫裝置.溫度範圍:18°C至80°C. 旋光度計VariPol-B型(圖1) •刻度:旋光角度,國際蔗糖刻度(旋光糖度),濃度,使用者自定刻度. •測試範圍:±89.9° •解析度:0.001°(旋光角度) •精確度:±0.005°(旋光角度) •再現性:±0.005°(旋光角度) •溫度範圍:10~40°C,解析度:0.01°C •樣品室Peltier固態式溫度調節:10°C to 40°C. •光源:LED燈. •波長:標準型單一波長589nm或二種波長589nm及另一波長介於365to882nm 之間. 自動折射計VariRef-E型(圖2) •測試範圍:1.32000~1.70000 RI/ 0~100% Brix. •解析度:0.00001 RI/0.01% Brix. •精確度:±0.00002 RI/±0.02% Brix. •溫度控制:內建Peltier固態電子式恆溫裝置.溫度範圍:5°C至100°C.