Seiko SEA6000VX XRF

      可應用於印刷電路板、太陽能電池之快速掃瞄成份分析、異物方析、膜厚測定。也可應用於RoHS有害元素篩選、無鹵規範、歐盟REACH法令有害物質、歐洲玩具標準EN71-3、加州Prop. 65法令、美國CPSIA鉛含量限制、合金型號辨識、金屬元素成分分析、貴金屬分析、分析土壤/環境重金屬分析、油品分析、……等各種元素分析品！日本精工Seiko針對大範圍的測試物件，特別所設計了全新高階機型—SEA6000VX，日本精工奈米科技研發，採用最新穎、最高階Vortex檢測器，是目前市面上功能最強速度最快的掃描分析電子式冷卻XRF，高計數率設計的Vortex檢測器，檢測速度是一般檢測器的15~20倍，針對微量元素及輕元素分析的應用極佳，為用於非破壞掃描檢測的最高階儀器。

• 無需使用液態氮的高感度實現
• 超高速掃瞄(500點連續測定)及指定位置測試雙重功能
• 多功能自動定位
• 凹凸樣品自動補正
• 超高解析樣品圖像
• 高精度膜厚測定
• 微小異物查找
• 透視掃描